徠卡顯微鏡的結(jié)構(gòu)中，除了光學(xué)部分，其余主要的都是機(jī)械部分，機(jī)械部分由于長時(shí)間的操作很容易老化，甚至發(fā)生故障。比較常見的情況就是工作臺或者鏡筒自動下滑。
 

　　鏡筒自動下滑，會經(jīng)常被誤認(rèn)為是齒輪與齒條配合的太松引起的。于是就在齒條下加墊片。這樣，鏡筒的下滑雖然能暫時(shí)止住，但卻使齒輪和齒條處于不正常的咬合狀態(tài)。
 

　　當(dāng)齒輪運(yùn)動的時(shí)候，齒輪和齒條都由于擠壓而變形。尤其是墊得不平時(shí)，齒條的變形更厲害，這樣會造成工作臺更大的損壞。
 

　　對于大部分設(shè)備的粗調(diào)機(jī)構(gòu)來說，當(dāng)鏡臂自動下滑時(shí)，可用兩手分別握往調(diào)焦手輪，雙手均按反方向用力擰緊，即可制止下滑。
 

　　徠卡顯微鏡特殊的觀察方法：
 

　　1、偏振光觀察：
 

　　主要特點(diǎn)是利用平面偏振光照射到試樣表面上，考察目的物對平面偏振光的橢圓化效應(yīng)。這種效應(yīng)可反映目的物有關(guān)光學(xué)對稱性的信息，從而判斷它是晶體各向同性或各向異性.照明用的平面偏振光經(jīng)起偏鏡得到；橢圓化效應(yīng)則用檢偏鏡檢查.它主要應(yīng)用于辨認(rèn)各向異性晶體不同取向的區(qū)域，或透明夾雜物的透視顏色.如果在垂直照明器和檢偏鏡之間放入一個(gè)靈敏色輝板，樣品的各個(gè)晶粒就可以由它們的特征顏色辨認(rèn).色輝板可以用來測定晶體擇優(yōu)取向程度并進(jìn)行回復(fù)和再結(jié)晶的研究，也可以對多相合金進(jìn)行相分析及對非金屬夾雜物進(jìn)行鑒定.在特定條件下還可以研究磁疇結(jié)構(gòu).
 

　　2、干涉觀察：
 

　　其特點(diǎn)是在顯微鏡光學(xué)系統(tǒng)中增加了特殊設(shè)計(jì)的光學(xué)裝置，使光線通過時(shí)被分成兩束，一束光通過物鏡，在試樣上反射返回，重新穿過光束分離器進(jìn)入目鏡；另一束光從一個(gè)比較板上反射進(jìn)入目鏡.這兩束反射光在光束分離器上相遇時(shí)會發(fā)生干涉，利用所產(chǎn)生的干涉條紋的形狀，可以判斷輕微浮凸的空間形態(tài)，并可根據(jù)條紋位移量和相鄰條紋間距之比，定量給出浮高度。多光束干涉的發(fā)展，使干涉條紋更為窄銳，從而提高了測量高度差的靈敏度。
 

　　3、相襯觀察：
 

　　利用相位差信息，將反射光減弱到和衍射光振幅相近，并改變反射光的相位，使其和衍射光同相或相差π。裝置是在普通顯微鏡的物鏡和目鏡之間的適當(dāng)位置上放一個(gè)環(huán)形的相位差板，將反射光減弱并移相，再安放一個(gè)相應(yīng)的環(huán)形光闌，就可以把表面細(xì)微高低不同引起的光學(xué)相差轉(zhuǎn)換為振幅差，提高各組織間的襯度.近期發(fā)展的微差干涉技術(shù)，把相襯和顯微干涉技術(shù)結(jié)合起來，能把細(xì)微的浮凸表現(xiàn)為色彩對比，更有效地提供表面細(xì)微組織的信息。
 

　　4、特種金相方法：
 

　　高溫和低溫金相：一般的金相研究均在室溫下進(jìn)行，只能觀察室溫下的組織及快冷固定下來的高溫組織.大多數(shù)組織隨溫度的升高或下降而變化.為了連續(xù)觀察高、低溫時(shí)組織變化，可以將樣品置于有加熱或冷卻裝置的樣品臺上，并抽真空保證樣品在高溫下不被氧化，低溫下不凝聚水汽.其次要用長焦距的物鏡(透射或反射式).但由于低溫或高溫顯微鏡只能觀察到引起表面高低不同的變化，而有些表面反應(yīng)與內(nèi)部不同(如高碳鋼在高溫下可以在表面析出石墨，低溫下首先在表面形成馬氏體等)，這種技術(shù)的應(yīng)用有很大的局限性.
 

　　5、定量金相：
 

　　也稱體視金相它主要以體視學(xué)為基礎(chǔ)，研究顯微組織的定量關(guān)系。